Tài liệu IEEE - 2nd (đọc kỹ bài đầu tiên trước khi gửi yêu cầu)

Cảm ơn docat rất nhiều. Chúc bạn một năm mới nhiều may mắn

Hê hê, xông đất đầu năm. Chúc mọi người 1 năm mới thành công trong công việc/học tập

Chúc mừng năm mới mọi người.
@docat: để hoạt động lâu dài, bạn docat có lẽ kô nên lưu tài liệu trên box.net quá lâu. Đặc biệt nếu docat đang ở nc ngoài thì càng cần phải lưu ý. Có khả năng bị để ý về bản quyền đấy.
Thân

Em xin 2 bài này với anh ơi
Phased array control using phase-locked-loop phase shifters
Houghton, A.W. Brennan, P.V.
R. Naval Eng. Coll., Plymouth;
http://ieeexplore.ieee.org/xpl/freeabs_all.jsp?isnumber=3475&arnumber=121996&type=ref
Triple mode PLL antenna array
Buchanan, N.B. Fusco, V.F.
Sch. of Electr. & Electron. Eng., Queens Univ., Belfast, CA, Ireland;
http://ieeexplore.ieee.org/xpl/freeabs_all.jsp?arnumber=1338915

Chào bạn Docat, chúc bạn một năm mới với mọi điều tốt lành.
Rất cảm ơn bạn vì đã giúp mọi người.
Lần trước tôi có nhờ giúp down hộ một số tiếu chuẩn nhưng quên gửi link, nay gửi lại, mong bạn giúp cho:
+ IEEE Std 516-2003 (Revision of IEEE Std 516-1995)
Guide for maintenance methods on energized power lines
http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?punumber=8752
http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?arnumber=1237537&isnumber=27752
+ IEEE Std 1048-2003
Guide for protective grounding of power lines
http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?punumber=8761
http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?arnumber=1237558&isnumber=27761
+ An Electric Fence Energized Design Method
http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?arnumber=4078174&isnumber=4078165
Thanks so much.

Chào bạn Docat, bạn down giúp mình bai báo nay với:
Measurement of shallow dopant profile using scanning capacitance microscopy
Goragot, W. Takai, M.
Res. Center for Mater. Sci. at Extreme Con***ions, Osaka Univ., Toyonaka, Japan;
This paper appears in: Microprocesses and Nanotechnology Conference, 2003. Digest of Papers. 2003 International
Publication Date: 29-31 Oct. 2003
On page(s): 306- 307
ISBN: 4-89114-040-2
INSPEC Accession Number: 7954071
Current Version Published: 2004-03-08
Abstract
Scanning capacitance microscopy (SCM) is one of the possible methods to measure two dimensional (2D) carrier profiles with nondestructive and high resolution. SCM has been developed for nonjunction structures in previous works. In this paper, the experimental dC/dV data were converted to the carrier current density profile using a simulated relation between dC/dV and the carrier concentration. The experimental data were found to be consistent with one dimensional simulation profile with high spatial resolution.
Phương pháp hiển vi điện dung quét đo phân bố nồng độ tạp chất trong chất bán dẫn.

Hi all, các bạn check linh nhé

Cảm ơn bạn docat nhiều lắm.

Cảm ơn bác nhiều!

Cảm ơn bác docat nhiều
Và xin nhờ bác tìm giúp thêm một số tiêu chuẩn IEEE về truyền tải điện:
+ IEEE Std 951-1988 Guide to the assembly and erection of metal transmission structures
http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?arnumber=26528&isnumber=1006
+ IEEE Std 1441-2004 Guide for Inspection of Overhead Transmission Line Construction
http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?arnumber=1453003&isnumber=31206
+ IEEE Std 524 - 2003 (Revision of IEEE Std 524 - 1992) - IEEE Guide to the Installation of Overhead Transmission Line Conductors
http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?arnumber=1278833&isnumber=28594
Một lần nữa xin cảm ơn docat